微機電系統雜志
國際簡稱:J MICROELECTROMECH S
按雜志級別劃分: 中科院1區 中科院2區 中科院3區 中科院4區
Journal Of Microelectromechanical Systems是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的工程技術領域的專業學術期刊,自1992年創刊以來,一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:1057-7157,E-ISSN:1941-0158),出版周期Bimonthly,其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動工程技術專業及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流,發表同行有創見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發學術創新,開展國際間學術交流,為工程技術領域的發展注入活力。
該期刊文章自引率0.0740...,開源內容占比0.2209,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括工程技術的專業人員,研究生、本科生以及工程技術領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Microelectromechanical Systems已被國際權威學術數據庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創新發展。
學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
大類:Engineering 小類:Mechanical Engineering | Q1 | 140 / 672 |
79% |
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 199 / 797 |
75% |
CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據,跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 | 3區 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 | 3區 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 | 2區 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 | 4區 3區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 | 2區 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 | 3區 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 165 / 352 |
53.3% |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 28 / 76 |
63.8% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 99 / 140 |
29.6% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 87 / 179 |
51.7% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 168 / 354 |
52.68% |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 37 / 76 |
51.97% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 73 / 140 |
48.21% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 83 / 179 |
53.91% |
JCR(Journal Citation Reports)分區,也被稱為JCR期刊分區,是由湯森路透公司(現在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)存在不同之處。例如,兩者的分區數量不同,JCR分為四個區,而中科院分區則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
年份 | 年發文量 |
2014 | 160 |
2015 | 235 |
2016 | 119 |
2017 | 153 |
2018 | 130 |
2019 | 122 |
2020 | 200 |
2021 | 129 |
2022 | 101 |
2023 | 78 |
被他刊引用情況 | |
期刊名稱 | 引用次數 |
J MICROELECTROMECH S | 359 |
MICROMACHINES-BASEL | 298 |
SENSOR ACTUAT A-PHYS | 287 |
J MICROMECH MICROENG | 219 |
IEEE SENS J | 206 |
MICROSYST TECHNOL | 193 |
SENSORS-BASEL | 190 |
IEEE T ULTRASON FERR | 93 |
APPL PHYS LETT | 92 |
SCI REP-UK | 84 |
引用他刊情況 | |
期刊名稱 | 引用次數 |
J MICROELECTROMECH S | 359 |
J MICROMECH MICROENG | 190 |
SENSOR ACTUAT A-PHYS | 163 |
APPL PHYS LETT | 109 |
IEEE SENS J | 66 |
J APPL PHYS | 58 |
IEEE T ULTRASON FERR | 56 |
LAB CHIP | 52 |
SENSOR ACTUAT B-CHEM | 51 |
NANO LETT | 41 |